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メールマガジン: 2026年1月29日配信メルマガ

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2026年1月29日

◆━━━━━━━━ OEGメールマガジン 2026.1.29 発行 ━━━━━━━━━◆
◆目次◆
1. サービス情報
◇ 【EMC試験】ISO/IEC 17025認定スコープ拡大
https://www.oeg.co.jp/ninshou/jablist.html
◇ 【AQG 324に対応】SiC MOSFETのDGS試験のご案内
https://www.oeg.co.jp/semicon/SiC.html
◇ ハロゲン・アンチモンの含有量分析
https://www.oeg.co.jp/env_meas/Halogen.html
2. セミナー情報
◇ OKIエンジニアリングが誇る、リチウムイオン電池解析の最前線セミナー
https://www.oeg.co.jp/Exhibition/guide115.html
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1. サービス情報
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◇ 【EMC試験】ISO/IEC 17025認定スコープ拡大
当社EMC試験のISO/IEC 17025認定において、お客様からご要望の多かった医療分野(※)や
船舶(IACS UR-E10, Class NK (第7編))でのスコープを 拡大しました。
当社は今後も幅広いニーズに確かな品質でお応えします。
お気軽にお問い合わせください。
(※)脳波計、超音波医用診断および監視機器、呼吸ガスモニタ、体温測定用の臨床温度計、
パルスオキシメータ機器
→JAB 認定試験規格一覧
https://www.oeg.co.jp/ninshou/jablist.html
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◇ 【AQG 324に対応】SiC MOSFETのDGS試験のご案内
SiC MOSFETは、ゲートスイッチングによるストレスで、 しきい値電圧が変動する場合があります。
欧州 車載パワーモジュール認定ガイドラインAQG 324では、 SiCモジュール向けの試験項目として、
この特性変動を確認するDGS(Dynamic Gate Stress)試験が設けられています。
当社は本試験サービスの提供開始から1年4カ月、多数の試験実績と豊富な知見を有しています。
専用の試験機を用い、AQG 324以外の多様な条件にも対応可能です。
試験方法の説明や試験事例の紹介も可能ですので、まずはお気軽にお問い合わせください。
→DGS試験 詳しくはこちら
https://www.oeg.co.jp/semicon/SiC.html
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◇ ハロゲン・アンチモンの含有量分析
ハロゲン系難燃剤(塩素・臭素化合物)や三酸化アンチモン(難燃助剤) は、電子部品用樹脂材料などで広く使用されてきました。
ハロゲン系難燃剤を含む材料を不適切な条件で焼却した場合、ダイオキシン類などの有害生成物が
生成される可能性があります。
近年、健康・環境への配慮や顧客要求の高まりを背景に、ハロゲンフリー・アンチモンフリー化が
進んでいます。
当社は、材料中のフッ素[F]、塩素[Cl]、臭素[Br]などのハロゲン およびアンチモン[Sb]の含有量分析をご提供します。
→燃焼イオンクロマトグラフ法によるハロゲン分析
https://www.oeg.co.jp/env_meas/Halogen.html
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2. セミナー情報
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2月5日に「OKIエンジニアリングが誇る、リチウムイオン電池解析の最前線」セミナーを
オンライン(Zoom)で開催いたします。
日  時:2026年2月5日[木] 14時00分~15時00分
参 加 費:無料
定  員:300名(ご好評につき増枠いたしました)
セミナープログラム
14:00~14:25 リチウムイオン電池の焼損解析
14:25~14:50 リチウムイオン電池の良品解析
14:50~15:00 評価設備・解析サービスのご紹介
▼詳細・お申し込みはこちら▼
https://www.oeg.co.jp/Exhibition/guide115.html
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【当社社員が執筆した書籍をご紹介】
 実践!電子機器・部品の信頼性評価・解析ガイドブック Part4
 -電子回路の品質作り込みとノイズ・熱トラブル解決への道筋-
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電子機器・部品における様々な評価・解析について、最適な評価を得られるように導く
入門書の第4弾です。
信頼性評価・解析・試験に加え、電子機器や部品において信頼性や故障に関わるノイズ対策技術などについても紹介しております。
→書籍紹介はこちら
https://www.oeg.co.jp/book/
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★ 本メールに関するお問い合わせ先 ★
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→Webからのお問い合わせはこちら
https://www.oki.com/cgi-bin/inquiryForm.cgi?p=k043
→OEGメールマガジンのバックナンバー(一部抜粋)はこちら
https://www.oeg.co.jp/company/oeg_backnumber.html
→個人情報の取り扱い・プライバシーについて
https://www.oeg.co.jp/company/privacy_policy.html
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※このメールは当社とお取引のある方、当社営業担当者が名刺交換をさせていただいた方
および展示会、セミナーなどでアンケートにご回答いただいた方へお送りしております。
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発行 沖エンジニアリング株式会社
https://www.oeg.co.jp/
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(C) Oki Engineering Co., Ltd.

2026年1月29日配信のタイトル

ISO/IEC 17025認定スコープ拡大|【AQG 324に対応】SiC MOSFETのDGS試験

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