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車載デバイス・機器業界必見!信頼性確保のキーポイントはこれだ!車載機器、車載デバイスの信頼性試験規格の解説と解析

当イベント・セミナーは終了いたしました。

車載機器、車載デバイスの信頼性試験規格の解説と解析セミナー概要

車載機器や電子デバイスにおいて、信頼性確保のために必須となるのが信頼性試験です。IC向けの「AEC-Q100」、ディスクリート向けの「AEC-Q101」、受動部品向けの「AEC-Q200」といった様々な信頼性試験規格があり、多くの自動車メーカーがこれらを採用しています。車載デバイスの信頼性は、自動車の安全性を左右する重要なファクターですので、これらの規格に準拠することが必須です。本セミナーは、車載機器、車載デバイスの信頼性試験を解説しながら、OKIエンジニアリングの誇る信頼性試験関連ソリューションを紹介していきます。
自動車・車載の電子デバイス・使用材料の研究・開発・設計・製造に携わる方々のご参加を心よりお待ちしております。

主催
OKIエンジニアリング
特別協力
株式会社産業タイムズ社
日時
終了  2018年6月21日(木)13時~17時40分
プログラム
参加費
20,000円+税/1名(テキスト付)
定員
55名(定員になり次第、締め切らせていただきます。お早めにお申し込みください。)
当社同業の企業様からのお申し込みはご遠慮いただく場合がございます。あらかじめご了承ください。
会場
富士ソフトアキバプラザ7F プレゼンルーム
所在地
〒101-0022 東京都千代田区神田練塀町3
お申し込み

車載デバイス・機器業界必見!信頼性確保のキーポイントはこれだ!
車載機器、車載デバイスの信頼性試験規格の解説と解析 セミナープログラム

タイムスケジュール 内容
12時30分~13時 受付(富士ソフトアキバプラザ7F プレゼンルーム前)
13時~13時20分 「車載電子部品であるマイコンやセンサーの最新技術・市場動向」

株式会社産業タイムズ社 電子デバイス産業新聞 甕 秀樹

13時20分~14時05分 「車載電子部品向け信頼性試験規格AECQ試験に関する解説及び試験方法」

OKIエンジニアリング デバイス評価事業部 出口 泰

14時05分~14時15分 休憩(名刺交換+パネル展示)
14時15分~15時00分 「良品解析に基づく故障の予兆把握と未然防止  ~実践的な信頼性評価法「LSIプロセス診断」~」

OKIエンジニアリング 信頼性解析事業部 高森 圭

15時00分~15時30分 「シロキサン解析事例及び曝露試験手法」

OKIエンジニアリング 環境事業部 棗田 次朗

15時30分~15時40分 休憩(名刺交換+パネル展示)
15時40分~16時40分 「車載部品・製品評価に必要な信頼性/環境試験装置の解説および評価例」

OKIエンジニアリング システム評価事業部 飯塚 隆元/岡 克己

16時40分~16時50分 休憩(名刺交換+パネル展示)
16時50分~17時40分 「IATF16949規格 試験所要求事項に関する解説~計測器の校正とEMC試験 17025試験所対応について ~」

OKIエンジニアリング EMC事業部 多田 雅則

演題、講演時間等につきましては予告無く変更することがございます。また、終了時間が延長になる場合もございます。あらかじめご了承ください。

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