SPICEパラメータ評価環境構築
SPICEパラメータ評価環境構築
ファンダリや自社のプロセスで取得した回路シミュレーション用のパラメータ（SPICEパラメータ）は、その精度や回路シミュレーションの収束性を評価するために、様々な評価を行う必要があります。しかしながら、既製の評価システムでは思ったような評価ができなかったり、評価に使用するソフトウエアのライセンスに限りがあるために、解析評価が思うように進まないという問題が発生します。 当社では、それらの課題を解決する手段として、評価要求を満たす必要・最小限の機能をもったソフトウエアを短時間に組み上げ、その都度、要求課題に柔軟に対応できる環境を構築することをご提案し、そのシステムの構築をお手伝いいたします。 以下にご紹介する例は、抽出したSPICEパラメータを評価するための、回路シミュレーションの入力とその計算結果を表示するためのシステム例で、当社がお手伝いし、短時間で構築したものです。
抽出したSPICEパラメータを評価のシステム例
抽出したSPICEパラメータを評価のシステム例を示します。
回路シミュレーション結果（遅延時間、素子DC特性、過渡解析波形）
抽出したSPICEパラメータを用いて、回路の遅延時間をシミュレーションするための入力画面と、回路シミュレーション結果（遅延時間、素子DC特性、過渡解析波形）を表示した例です。ここでは、パラメータのスキュー条件を変更し、本メニューよりSPICEを起動制御することで、短時間でスキューに関する回路遅延時間を評価できます。評価結果は、表計算ソフトに自動的送られ、整理された形で閲覧することができます。
回路シミュレーション結果（遅延時間、素子DC特性、過渡解析波形）
遅延時間解析に用いた素子のDC特性をシミュレーションし、その特性を表示
遅延時間解析に用いた素子のDC特性をシミュレーションし、その特性を表示させることができます。遅延時間解析を行い、結果が思わしく無い場合に、すぐにその原因を解析することができます。
遅延時間解析に用いた素子のDC特性をシミュレーションし、その特性を表示
素子の寸法を変化させた場合のDC特性の連続性をチェック
素子の寸法を変化させた場合のDC特性の連続性をチェックすることもできます。 SPICEパラメータの設定に不備があると、DC特性の寸法依存に不連続が生じる場合があり、それらの不具合を迅速に評価・検証できます。 当社では、このようなシステムの構築および、お客様によるシステム改良体制の立ち上げまでお手伝いいたします。
素子の寸法を変化させた場合のDC特性の連続性をチェック
【お問い合わせ先】
- デバイス評価事業部
- 電話：03-5920-2366 ファックス：03-5920-2306
