測定データ評価環境構築
測定データ評価環境構築
半導体素子の電気的特性を測定・評価する場合、大量の測定結果を様々な角度から把握、 評価したいという要求が常に生じます。しかしながら、既製の評価システムでの対応が難しかったり、処理に時間がかかってしまい、解析評価が思うように進まないという問題が発生します。この問題の解決するには、評価要求を満たす必要・最小限の機能をもったソフトウエアを 短時間に組み上げ、その都度、要求課題に柔軟に対応できる環境を構築することです。当社では、半導体の特性測定・評価を行うサービスのご提供とともに、その電気的測定結果を表示・確認する環境の構築、および、その結果をシミュレーション結果と比較して確認する環境の構築もお手伝いします。本サービスにより、柔軟・迅速に評価環境を構築することができます。
測定データ評価環境構築の適用例
測定データ評価環境構築の適用例を図1～図3に示します。
- 図1.表にリストアップされた任意の測定データを、描画ウインドウ内に表示して一括して結果を確認
- 図2.描画ウインドウ内の任意のグラフを拡大・縮小し確認するとともに、対数表示に切り替え結果を確認
- 図3.測定結果に、回路シミュレーション結果を重ねて、結果を確認。また、シミュレーションパラメータを変化させ、感度解析を実施
図1.表にリストアップされた任意の測定データを、描画ウインドウ内に表示して一括して結果を確認
図1.表にリストアップされた任意の測定データ
図2.描画ウインドウ内の任意のグラフを拡大・縮小し確認するとともに、対数表示に切り替え結果を確認
図2.グラフを拡大・縮小、対数表示に切り替え
図3.測定結果に、回路シミュレーション結果を重ねて、結果を確認。また、シミュレーションパラメータを変化させ、感度解析を実施
図3.測定結果に、回路シミュレーション結果を重ねて、結果を確認。シミュレーションパラメータを変化させ、感度解析を実施
【お問い合わせ先】
- デバイス評価事業部
- 電話：03-5920-2366 ファックス：03-5920-2306
