Topics一覧
2010年
- 12月30日
- OKIエンジニアリングが実施している構造関数を使ったRthjc測定法が、JEDECのスタンダードとして制定されました。
- 12月16日
- 熱過渡解析サービスの新規導入格安料金キャンペーンでのお試しは2010年12月20日受付にて終了いたしました。
- 12月15日
- 低分子シロキサン分析の評価・試験サービス内容を掲載いたしました。
- 12月3日
- 通信端末機器の技術基準適合検査（JATE申請）の評価・試験サービス内容を掲載いたしました。
- 11月12日
- 電子機器の防水性や防塵性を評価するIP試験の『携帯電話のIP9K試験例』を動画掲載いたしました。
- 11月11日
- 2011年1月19日（水）～21日（金）開催の『第3回 国際 カーエレクトロニクス技術展』に出展いたします。ぜひ、ご来場ください。
- 10月19日
- 『CEATEC JAPAN 2010』のご来場ありがとうございました。出展パネルを公開いたしましたのでご活用ください。
- 10月18日
- デバイスの電気的特性測定・評価の信頼性評価試験に『ソフトエラー評価』を掲載いたしました。
- 10月8日
- 小惑星探査機「はやぶさ」の信頼性向上に電子デバイスのスクリーニングを通じて貢献しました。
- 9月29日
- 【プレスリリース】半導体デバイス向け「熱特性評価サービス」のラインアップを強化し提供開始いたしました。
- 9月10日
- 太陽電池モジュールの製造品質確認のための良品構造解析手法として、エネルギー分散型X線分光法（SEMーEDX分析）例を掲載しました。
- 8月31日
- 2010年12月2日（木）～12月3日（金）の2日間開催の『第31回 表面科学セミナー』に当社の信頼性設計事業部：村原 大介 が講演いたしました。
- 8月24日
- 【プレスリリース】電子機器の防水性や防塵性を評価するIP試験のフルライン・サービスを提供開始いたしました。
- 8月14日
- 10月5日～9日開催の『CEATEC JAPAN 2010』に出展します。ぜひ当社のブー スにお越しください。
- 8月14日
- 9月30日開催の『半導体産業新聞FORUM』に当社の信頼性設計事業部：中村 隆治、デバイス評価事業部：加藤 且宏 が講演いたしました。
- 7月22日
- 【プレスリリース】当社EMCセンタは7月6日付けにて国際規格「ISO/IEC17025:2005」の試験所認定を取得しました。
- 7月16日
- 『2010OEGセミナー』のご来場ありがとうございました。セミナーの発表内容を公開いたしましたのでご活用ください。
- 7月2日
- 【REACH規則対応高懸念物質（SVHC）分析サービス】イオン付着質量分析（IA/MS）法を用いた安価で迅速なスクリーニングを開始いたしました。
- 6月22日
- 『デキャップソリューション』の開封作業、レーザー開封観察例を掲載いたしました。
- 6月3日
- 【第40回 信頼性・保全性シンポジウム】に参加します。また、当社の信頼性技術事業部 高森 圭、岡 克己、村原 大介がチュートリアル講演・発表を行います。セミナー時間をご確認の上、ぜひご来場ください。
- 6月2日
- 【期間限定】7月31日まで
複雑化する各種電子部品の非破壊解析手法の一つとして、製品の安全性や構造についての調査をX線CT解析キャンペーンを行っておりましたがご好評につき7月31日まで延長となりましたので、ぜひこの機会にご利用ください。（PDFファイル 240KB）
- 4月23日
- 信頼性環境試験の『LEDの信頼性試験』を掲載いたしました。
- 4月13日
- 信頼性環境試験の『X線透視解析例』に携帯電話用リチウムイオン電池のX線CT観察例を追加掲載いたしました。
- 4月13日
- 【期間限定】4月12日～5月31日まで
複雑化する各種電子部品の非破壊解析手法の一つとして、製品の安全性や構造についての調査をX線CT解析キャンペーンを行っております。（PDFファイル 240KB） - 4月1日
- 電子部品化学物質情報検索サービスCOINServ®-Net（コインサーブネット）を 掲載いたしました。
- 4月1日
- REACH規則対応 製品含有化学物質情報システムCOINServ®-COSMOS-R/R（コインサーブコスモスアールツー）は、本日付けで沖電気工業株式会社に移管されました。
- 3月29日
- 信頼性環境試験の『LED評価』を掲載いたしました。
- 2月9日
- 2月4日（火）～2月5日（金）に開催いたしました『第14回 震災対策技術展／自然災害対策技術展』のご来場ありがとうございました。出展パネルを公開いたしましたのでご活用ください。
- 2月8日
- 技術論文のレポートリストに『MEMSデバイスの信頼性に対する良品構造解析的アプローチ』を追加いたしました。
- 1月29日
- 計測の自動化のみでなく、測定データの各種処理ソフト開発（分析、グラフ化等）による業務支援の『計測システムの開発』を掲載いたしました。
- 1月25日
- IEC電子部品品質認証制度（IECQ）独立試験所認定書が更新されました。
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