Topics一覧
2009年
- 12月24日
- 技術論文のレポートリストに『Evaluation Trial of MEMS Devices by LSI Process Diagnostics』を追加いたしました。
- 12月18日
- 信頼性環境試験の『キャス試験』を掲載いたしました。
- 12月7日
- 電子機器設計時の熱抵抗値と実条件値の乖離を大幅に減少させた「過渡熱抵抗測定サービス」の提供を開始しましたので、プレスリリースを行いました。
- 11月17日
- ESD/ラッチアップ（Latch-up）実力・解析試験サービスを掲載いたしました。
- 11月9日
- 12月9日～12月10日開催の『Car Testing Japan 2009』に出展します。ぜひ当社のブー スにお越しください。
- 11月9日
- 11月26日開催の『EDN Japan主催 第3回ノイズセミナー『ノイズ対策の理論と実践』に当社の信頼性設計事業部長：福田保裕 が講演参加します。セミナー時間をご確認の上、ぜひご来場、ご参加ください。
- 11月9日
- 『第19回 2009 RCJ信頼性シンポジウム』～電子デバイスの信頼性シンポジウム、EOS/ESD/EMCシンポジウム～のご来場ありがとうございました。ディスカッション内容を公開いたしましたのでご活用ください。
- 11月9日
- 『北九州学術研究都市 第9回 産学連携フェア』のご来場ありがとうございました。出展パネルを公開いたしましたのでご活用ください。
- 11月6日
- 『CEATEC JAPAN 2009』のご来場ありがとうございました。出展パネルを公開いたしましたのでご活用ください。
- 10月7日
- デバイスの電気的特性測定・評価、信頼性評価のSPICEパラメータ評価環境構築を掲載いたしました。
- 9月14日
- デバイスの電気的特性測定・評価、信頼性評価の測定データ環境構築の適用例を掲載いたしました。
- 9月3日
- 10月28日～10月30日北九州学術研究都市で開催される第9回産学連携フェアに出展します。車載・電装品およびロボット関連などへの信頼性評価サービス等について展示を行います。ぜひ、当社のブー スにお越しください。
- 9月3日
- 10月6日～10月10日開催のCEATEC JAPAN2009に出展します。ぜひ、当社のブースにお越しください。
- 8月26日
- 『ESD（静電気破壊）保護設計・コンサル』『組立工程のESD対策』『ESD関連試験共通サービス』『ESD試験/ラッチアップ（Latch-up）試験/静電気イミュニティ試験』を掲載いたしました。
- 7月28日
- 太陽電池の信頼性向上のための『太陽電池の良品構造解析例』を掲載いたしました。
- 7月21日
- 『2009OEGセミナー』のご来場ありがとうございました。セミナーの発表内容を公開いたしましたのでご活用ください。
- 7月17日
- 信頼性環境試験の『DPA（破壊的物理解析）構造解析：MIL-STD-833に基づいた構造解析』を掲載いたしました。
- 6月2日
- 信頼性環境試験の『耐水試験』を掲載いたしました。
- 5月29日
- 信頼性環境試験の『オゾン試験』を掲載いたしました。
- 5月25日
- 『第39回 信頼性・保全性シンポジウム』2009年7月13日（月）に当社の信頼性技術部の村原 大介が『LSIプロセス診断法によるMEMSデバイスの評価試行』を発表いたします。ぜひ、ご参加ください。
- 5月19日
- シグナル・インテグリティ（SI）解析のためのモデルパラメータ抽出を掲載いたしました。
- 4月30日
- RoHS関連分析サービス ・ REACH規則対応高懸念物質（SVHC）分析サービス ・ ハロゲンフリー分析 ・ シップリサイクル法材料宣誓書作成のための有害物質の測定分析を掲載いたしました。
- 4月28日
- EUの化学物質規制「REACH規則」に対応した製品含有化学物質情報システム「COINServR-COSMOS-R/R」の販売を開始いたしました。
- 4月22日
- 受動部品によるスクリーニングを掲載いたしました。
- 3月18日
- シュムプロットによるマージン解析を掲載いたしました。
- 3月5日
- リアルタイム地震防災システムJB1S01の活用事例を掲載いたしました。
- 2月27日
- 信頼性評価試験の良品解析の手法『LSIプロセス診断』を掲載いたしました。
- 1月17日
- ダイナミックバーンイン試験を掲載いたしました。
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