Topics一覧
2008年
- 12月19日
- 『Car Testing Japan 2008 Winter』のご来場ありがとうございました。出展パネルを公開いたしましたのでご活用ください。
- 12月13日
- デキャップソリューション（プラスチック・パッケージの開封（樹脂開封））を掲載いたしました。
- 12月13日
- 東京電機大学殿からのご依頼により『投射配置による落下衝撃を考慮した耐衝撃機構を備えたセンサノードの開発』に協力しています。（PDFファイル 200KB）
- 12月12日
- リカバリーダイオードのtrr測定を掲載いたしました。
- 12月6日
- 35周年創立日12月6日に合わせて本WEBサイトをリニューアルいたしました。
- 11月27日
- 半導体などの工場プラント向けリアルタイム地震防災システムを掲載いたしました。
- 11月17日
- ホールIC（近接磁気センサー）の動作確認事例を掲載いたしました。
- 11月4日
- 第18回 RCJ信頼性シンポジウムに出展いたしました。ご来場ありがとうございました。セミナーで講演しました『ICカードのEMC試験（近接型）』（PDFファイル 200KB）・『TLP 測定によるESD パラメータ抽出』（PDFファイル 383KB）を技術論文に掲載しました。
- 10月17日
- GaN、SiCの高低温測定を掲載いたしました。
- 10月6日
- EMC測定による 『CEマーキング取得サポート』 を掲載いたしました。
- 10月2日
- 東京電機大学殿からのご依頼により 『耐衝撃性を考慮した無線センサノードの開発（レスキューロボット）』に協力しています。（PDFファイル 357KB）
- 9月24日
- 「IPstage®シリーズ」のSIP連携によるIPテレフォニーシステムをオガワに納入
- 9月23日
- EMCの無線試験・認証取得支援サービスを掲載いたしました。
- 9月19日
- 専用の治具製作によるスクリーニングを掲載いたしました。
- 9月4日
- 技術基準適合検査（JATE申請）の対象機器を掲載いたしました。
- 8月20日
- B1500A 半導体デバイス・アナライザ（Agilent Technologies製）を導入いたしました。
- 8月18日
- ESD【静電気放電】コンサルとしてESD/Latch-up試験、工程内ESD（静電気放電）コンサル、ESD保護設計コンサル、信頼性シュミレーションを掲載いたしました。
- 7月22日
- 2008OEGセミナーの講演内容 を掲載いたしました。
- 7月10日
- 信頼性評価試験サービスの環境試験にIP試験（電気機械器具の外郭による保護等級試験）について掲載しました。
- 7月5日
- 半導体の特性評価にスクリーニングフロー例を追加しました。
- 7月5日
- 電気通信端末機器の技術基準適合検査（JATE申請）について掲載いたしました。
- 6月25日
- 信頼性評価試験サービスの環境試験に気槽熱衝撃試験, 湿度冷熱衝撃試験（結露サイクル試験）, 液槽熱衝撃試験について掲載いたしました。
- 6月25日
- 冷熱衝撃試験槽（液槽型）を導入しより効果的な熱衝撃試験が実施できるようになりました。
- 6月20日
- EMC測定の製品安全試験を追加しました。
- 6月18日
- 車載向けリニアデバイスの評価に複数のアナログ、ディジタル入力ピンを同時にコントロールし、出力制御を行うＩＣの測定例を追加しました。
- 5月22日
- 信頼性評価試験サービスの ICカード・RFID評価試験を追加しました。
- 4月15日
- 信頼性試験の環境試験設備一覧を追加しました。
- 3月28日
- 計測器校正サービスの校正可能なLSIテストシステム型式一覧を追加しました。
- 3月5日
- 信頼性評価試験サービスの塵埃試験，耐塵試験を追加しました。
- 2月21日
- PowerMOS－FET測定事例を追加しました。
- 2月15日
- Car Testing Japan 2008 に出展いたします。是非、当社のブースにお越しください。
- 1月23日
- PowerMOS-FETの測定のページを追加しました。
- 1月21日
- 第25回エレクトロテストに当社が出展しましたパネルを掲載いたしました。
- 1月21日
- 第25回エレクトロテストに出展しました。
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