第8回 産学連携フェア
2008年10月8日（水）～10月10日（金）、西日本総合展示場・新館にて開催された、北九州学術研究都市『第8回 産学連携フェア』に出展しました。下記にパネルのPDFファイルを公開いたします。
信頼性ESD設計・良品構造解析
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【パネルPDFはこちらから】
組立工程の半導体静電気障害対策
（PDFファイル 168KB）
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【パネルPDFはこちらから】
ESD耐性試験・ESD保護設計
（PDFファイル 168KB）
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【パネルPDFはこちらから】
良品構造解析を利用したパネル
（PDFファイル 321KB）
デバイスの特性評価（LSI開発サポート）
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【パネルPDFはこちらから】
ウエハレベルのLSI信頼性評価
（PDFファイル 201KB） 
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半導体デバイスのスクリーニング
（PDFファイル 186KB）
信頼性評価・特殊環境試験、EMC試験、車載品関連信頼性評価
【パネルPDFはこちらから】
特殊環境試験
（PDFファイル 228KB）-
【パネルPDFはこちらから】
EMC試験・総合ソリューション
（PDFファイル 200KB） -
【パネルPDFはこちらから】
車載品関連信頼性評価
（PDFファイル 397KB）
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