半導体産業新聞FORUM半導体デバイス故障・解析ビジネスをめぐって、話題のパワーデバイス／太陽電池／LED／MEMSからもニーズがぞくぞく
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半導体産業新聞FORUM
電子デバイス「故障解析」業務が注目を浴びています。当然、その市場規模もかつてとは比較にならないほど、大きな成長を遂げようとしています。なぜでしょう。通常、一般民生機器に搭載されているデバイスなら、不良品は取り替えればよいという発想です。ところが、在来線をはじめとする新幹線や飛行機などの交通費、クレジットなどの金融関連など、お金に関する様々な分野にインターネットとICカードが幅広く、かつ深く浸透する時代になってきました。それは、デバイス信頼性の欠落が我々の身近な世界で、大きな社会不安を引き起こす要因になってきたことを示唆します。一方、電子デバイスメーカー各社は量産体制の維持と歩留りの確保に追われ、徹底的なデバイス信頼性に時間とリソースを回し切れないのが実情です。そこで、半導体産業新聞では、同分野にスポットを当てた「『見える化、測れる化』で新たなビジネスチャンスを探る」を企画しました。専門家を対象とした技術セミナーではありません。各講演は故障解析業務の実際を主軸に、可能な限りビジュアルで具体例を提示。デバイス信頼性との因果を解説すると同時に、そこに潜むビジネスチャンスを探るのが狙いです。ぜひ、同セミナーにご参加いただき、事業拡大のための要素情報としてご活用ください。
講演内容
- 第1部 半導体の基礎知識と「故障・解析」業界のマーケット動向
- テーマ
13：00～13：40 - 「故障・解析」ビジネスを理解するための半導体デバイス基礎知識
故障・解析業界の市場規模などマーケット動向も踏まえて - 講師
- 信頼性技術事業部 故障解析・構造解析 グループ マネージャー 中村 隆治
- 第2部 「故障・解析」ビジネスの実際と課題
- テーマ
13：40～15：10 - ビジュアルで見る故障解析の具体例とデバイス信頼性との因果
ユーザーとして、故障解析装置&材料へのニーズとともに - 講師
- 信頼性技術事業部 故障解析・構造解析 グループマネージャー 中村 隆治
- テーマ
15：30～16：30 - 最大の課題！静電気対策を探る
静電気が及ぼす電子デバイス／モジュールへの信頼性と改善対策をめぐって - 講師
- デバイス評価事業部 信頼性設計 グループリーダー 加藤 且宏
- 第3部 話題の電子デバイス「故障・解析」
- テーマ
16：40～17：40 - 話題の電子デバイスからも「見える化、測れる化」ニーズがぞくぞく
パワーデバイス、太陽電池、LED、MEMSをめぐって - 講師
- 信頼性技術事業部 故障解析・構造解析 グループ マネージャー 中村 隆治
講師陣との名刺交換会 17：40～
当社より、講師以外にも数名、セミナー会場に同席致します。プライベートなご質問やビジネスチャンスの模索など、コーヒーブレイクもしくはセミナー終了後、積極的なお名刺交換とともに同セミナーを有効にご活用ください。
セミナー参加ご案内
- 日時： 2010年9月30日（木） 13：00～17：40（17：40以降も名刺交換可）
- 会場： 東京・御茶ノ水 明神会館（神田明神境内）
- 参加費： 2万9,400円／1名（テキスト・飲物付、消費税込み）
- 主催： 半導体産業新聞
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