第39回 信頼性・保全性シンポジウム
第39回 信頼性・保全性シンポジウム
7月13日（月）～7月14日（火）、『信頼性と安全性の接点』をテーマに 日本教育会館（東京・千代田区一ツ橋）にて開催される、『第39回 信頼性・保全性シンポジウム』に参加します。信頼性、保全性に携わるエンジニア、マネージャー、研究者による研究発表、事例発表、討論などを行うとともに、基調講演、特別講演、チュートリアル、展示コーナーなど多彩な人的交流、情報交換を主眼としての開催で国内外からの高い評価があります。今回のシンポジウムは『信頼性と安全性の接点』をテーマに、広い意味での信頼性と安全性の両立、ますます複雑化されるアイテムにおいてとりわけアイテムが故障しない性質、いつでも使用できる状況、これらを実現するために、幅広い議論を通じて信頼性と安全性の共通点と相違点との理解を深めていきます。
- 会期：2009年7月13日（月）～7月14日（火）の2日間
- 受付時間：エレベーターホール前 9：00～11：00
- 参加申込：財団法人日本科学技術連盟 セミナー受付グループ
- 会場：日本教育会館（東京・千代田区一ツ橋）道案内専用電話：03-3230-2833
東京都千代田区一ツ橋2-6-2
■ 東京メトロ半蔵門線「神保町」駅下車 （A1出口）徒歩約3分
■ 地下鉄都営三田線「神保町」駅下車 （A8出口）徒歩約5分
■ 東京メトロ東西線「竹橋」駅下車 （北の丸公園側出口）徒歩約5分
■ JR総武線「水道橋」駅下車 （西口出口）徒歩15分 - 主催： 財団法人日本科学技術連盟
一般研究発表 ：MEMSの信頼性
当社の信頼性技術事業部の村原 大介が『LSIプロセス診断法によるMEMSデバイスの評価試行』として【Session 3】MEMSの信頼性研究発表を行います。セミナー時間をご確認の上、是非ご来場ください。
- 発表者： 村原 大介
- 日時： 2009年7月13日（月） 15：15～15：45 168席
- 会場： 日本教育会館（東京・千代田区一ツ橋） B会場（第二会議室）8F（805～806）
- テーマ： 『LSIプロセス診断法によるMEMSデバイスの評価試行』
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