第18回 信頼性・ESD対策技術展示会
ご案内
10月28日（火）～10月30日（木）、 東京都大田区「産業プラザ」1階 大展示ホールにて開催される、『第18回 信頼性・ESD対策技術展示会』に出展します。 ワークショップ、セミナー等の発表も予定されており、最新の静電気障害対策技術、信頼性評価技術、故障解析技術をご紹介させて戴きます。是非、ご来場ください。
第18回 RCJ信頼性シンポジウム
第18回 RCJ信頼性シンポジウム（PDFファイル 560KB）
は静電気の影響を受けやすい電子デバイス・部品、電子機器などを扱う信頼性技術者、生産技術者の方々を対象に、より進歩した静電気障害対策技術、信頼性評価技術、故障解析技術を扱う専門の展示会です。ESD対策モデルルームの展示（展示社が各資材・機器を持ちより、ESD対策モデルルームも展示します。
- 会期：2008年10月28日（火）～10月31日（金）の4日間
- 開催時間：10：00～17：00
- 参加費：無料 招待状はこちらから（PDFファイル 380KB）
ESD対策技術基礎セミナー参加の方は資料代：3000円 - 会場：大田区産業プラザ 1階大展示場
〒144-0035 東京都大田区南蒲田1-20-20 - 主催： 財団法人日本電子部品信頼性センター
ワークショップ
出展社の新製品紹介や新技術紹介を主としたワークショップを行います。セミナー時間をご確認の上、是非ご来場ください。
- 発表者：福田 保裕
- 日時：2008年10月28日（火） 16：00～16：25
- 会場：大田区産業プラザ（東京 蒲田）1 階大展示場
- ワークショップテーマ：『LSIの保護設計』
出展者セミナー
自社の技術・製品・サービスを紹介する「出展者セミナー」に参加します。 セミナー時間をご確認の上、是非ご来場ください。
- セッション名、No： 先端半導体デバイスのESD（2） 18E-09
- 発表者：福田 保裕、 山田 朋美、澤田 真典
- 日時：2008年10月30日（木） 17：30～17：50
- 会場：4階コンベンションホール（B会場）
- テーマ：『TLP測定によるESDパラメータ抽出』
- セッション名、No： イミュニティ関連） 18E-11
- 発表者：白井 秀泰
- 日時：2008年10月31日（金） 13：00～13：20
- 会場：4階コンベンションホール（B会場）
- テーマ：『ICカードのEMC試験（近接型）』
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