第20回 RCJ信頼性シンポジウム
第20回 RCJ信頼性シンポジウム
RCJ信頼性シンポジウムは、平成3年から開催し、微細化・高機能化が急進展している電子デバイス・電子部品の信頼性技術、静電気放電（ESD）対策技術を中心に発表・討論する場を、企業、大学、研究所の研究者・技術者の方々に提供すべき企画されました。GMRヘッド、液晶デバイス、微細化半導体デバイス等の厳しいESD・信頼性対策が要求されている最新ナノテクノロジーデバイスに焦点を当て、情報交換を主眼としての開催で国内外からの高い評価があります。展示会と同時に、静電気、信頼性に関する展示製品を中心とした技術セミナーを開催 し、出展社と来場者とのより一層の意見、情報交換の場となることを企画しております。ぜひご来場ください。
- 第20回 電子デバイスの信頼性シンポジウム
- 第20回 EOS/ESD/EMCシンポジウム
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展示会：同会場の2階小展示ホールで、電子デバイス・装置の静電気対策・信頼性に焦点を当てた「信頼性・ESD対策技術展示会」の同時開催を予定
- 会期：2010年10月21日（木）～10月22日（金）の2日間
- 会場：大田区産業プラザ（東京 蒲田）
- 主催： 財団法人日本電子部品信頼性センター
一般研究発表
信頼性研究発表を行います。セミナー時間をご確認の上、ぜひご来場ください。
第20回 EOS/ESD/EMCシンポジウムでの講演
第20回 電子デバイスの信頼性シンポジウムでの講演
- 発表者
- 清水 亙
- テーマ
- 『新たなデバイス熱特性の評価手法としての熱過渡解析法』
- 日時
- 10月21日（木）13:15～13:45
- 会場
- 4階コンベンションホール（B会場）
- 発表者
- 丸山 敏彦
- テーマ
- 『車載EMC試験の注意点（ハーネスの影響について）』
- 日時
- 10月22日（金）16:40～17:00
- 会場
- 4階コンベンションホール（A会場）
信頼性・ESD対策技術ワークショップでの講演
- 発表者
- 隅田 淳
- テーマ
- 『電子部品のESD/ラッチアップ障害と対策』
- 日時
- 10月22日（金）15:00～15:25
- 会場
- 2階小展示場
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