第40回 信頼性・保全性シンポジウム
第40回 信頼性・保全性シンポジウム
7月15日（木）～7月16日（金）、日本教育会館（東京・千代田区一ツ橋）にて開催される、『第40回 信頼性・保全性シンポジウム』に参加します。信頼性、保全性に携わるエンジニア、マネージャー、研究者による研究発表、事例発表、討論などを行うとともに、基調講演、特別講演、チュートリアル、展示コーナーなど多彩な人的交流、情報交換を主眼としての開催で国内外からの高い評価があります。今回のシンポジウムは『環境と信頼性・安全性の両立に向けて』をテーマに、炭酸ガス排出規制など環境へ配慮が必須になった世界情勢となって、たとえば自動車における電子制御技術などのように、省エネルギー、代替エネルギー、計量化技術などが幅広く求められています。新技術においては信頼性・安全性において未知の部分も存在します。最近整備されつつあるIEC61508、ISO26262など電子制御システムの信頼性と機器安全に関する国際基準も考慮しつつ、環境と信頼性・安全性の両立をいかに達成するかについて理解を深めていきます。貴社の信頼性活動を一層発展させるためにもぜひご参加ください。
- 会期：2010年7月15日（木）～7月16日（金）の2日間
- 受付時間：エレベーターホール前 9：00～11：00
- 参加申込：財団法人日本科学技術連盟 セミナー受付グループ
- プログラム概要はこちら（PDFファイル 538KB）
- 会場：日本教育会館（東京・千代田区一ツ橋）道案内専用電話：03-3230-2833
東京都千代田区一ツ橋2-6-2 会場への地図はこちら
■ 東京メトロ半蔵門線「神保町」駅下車 （A1出口）徒歩約3分
■ 地下鉄都営三田線「神保町」駅下車 （A8出口）徒歩約5分
■ 東京メトロ東西線「竹橋」駅下車 （北の丸公園側出口）徒歩約5分
■ JR総武線「水道橋」駅下車 （西口出口）徒歩15分 - 主催： 財団法人日本科学技術連盟
一般研究発表 ：電子部品材料の信頼性
当社の信頼性技術事業部の村原 大介、岡 克己が【Session 1】電子部品・材料の信頼性にて研究発表を行います。セミナー時間をご確認の上、ぜひご来場ください。
- 2010年7月15日（木） 13：45～14：15
- 発表者：村原 大介
テーマ：『太陽電池モジュールの良品構造解析手法』
- 発表者：村原 大介
- 2010年7月15日（木） 14：15～14：45
- 発表者：岡 克己
テーマ：『BGAにおける導電性接着剤の強度』
- 発表者：岡 克己
- 会場：
- 日本教育会館（東京・千代田区一ツ橋） A会場
チュートリアル講演：日本信頼性学会「故障物性研究会」によるセッション
当社の信頼性技術事業部の高森 圭が第一部のチュートリアル発表および第二部のパネル討論に参加し、現場で発生する電子部品や電子機器の故障問題を論議し、試験・解析技術の高度化や電子機器の信頼性向上に解析サービスの立場から、時代の変化に対応した活動成果や提言について述べます。セミナー時間をご確認の上、ぜひご来場ください。
- 発表者：
- 高森 圭
- 日時：
- 2010年7月16日（金） 12：15:～16：30
- 会場：
- 日本教育会館（東京・千代田区一ツ橋） A会場
- 発表内容：
- 第一部 チュートリアル【高信頼性に向けた信頼性技術】
『調達部品の試験・解析（1）試験・解析サービスの役割とセットメーカへの提言』
第二部 パネル討論【高信頼性時代に向けた信頼性技術と部品調達】
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