2008年国際航空宇宙展
10月1日（水）～5日（日）、パシフィコ横浜展示ホール/アネックスホールにて開催された、『2008年国際航空宇宙展（ジャパンエアロスペース2008/JA2008） 』OKIエンジニアリングは出展しました。下記にパネルのPDFファイルを公開いたします。
デバイスの特性評価（LSI開発サポート）・信頼性評価・良品構造解析
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【パネルPDFはこちらから】
ウエハレベルのLSI信頼性評価
（PDFファイル 201KB）
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【パネルPDFはこちらから】
半導体デバイスのスクリーニング
（PDFファイル 186KB） -
【パネルPDFはこちらから】
良品構造解析を利用したパネル
（PDFファイル 321KB）
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